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產(chǎn)品分類(lèi)
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 計測網(wǎng)優(yōu)勢 日本表面檢查燈 目視燈 現貨
2024-06-03
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270
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 手持式 日本表面檢查燈 碳化硅外觀(guān) 目視燈
2024-01-04
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219
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 拋光 碳化硅 日本 表面 檢查燈 尺寸30mm用
2024-01-04
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335
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 日本表面 檢查燈40WLX 強光燈 光斑30mm
2024-01-04
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467
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 表面檢查燈40WLX小王子 強光燈 光斑60mm
2024-01-04
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272
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 日本表面檢查燈 小王子 碳化硅 拋光 晶圓
2024-01-04
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295
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 日本表面檢查燈 晶圓拋光 碳化硅 強光燈
2024-01-04
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