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Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
垃圾坑點(diǎn)火監控裝置日本表面檢查燈 UIH-1C對對象物(※1)照射高亮度的光的話(huà)會(huì )發(fā)生振打現象,表面的傷和垃圾,內部的異物和氣泡用目視能容易地確認。※1:半導體晶片、掩模玻璃、硬盤(pán)、液晶面板、鏡頭等!
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垃圾坑點(diǎn)火監控裝置日本表面檢查燈 UIH-1C
垃圾坑點(diǎn)火監控裝置日本表面檢查燈 UIH-1C
點(diǎn)火監視裝置(TAM系列)、超高亮度照明裝置(UIH-1、UIH-2、UIH-3)、半導體晶片截面形狀測量裝置(WEMS、VSSW)等測量裝置制造現場(chǎng)。
UIH-1C型規格
*1 為了保護燈泡,即使在主電源開(kāi)關(guān)關(guān)閉的情況下,仍可通過(guò)風(fēng)扇維持冷卻直至燈室內溫度降至約 40℃ 以下的功能。
UIH-2D型規格
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