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Cassification
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 聚光燈 晶圓 鹵素 光源裝置
2024-01-04
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2024-01-04
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