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產(chǎn)品分類(lèi)
Cassification
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產(chǎn)品展示/ Product display
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 鹵素 光源 高亮度 強光燈
2024-01-04
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563
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 晶圓 瑕疵 目視 檢查 燈
2024-01-04
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 芯片 液晶 高 亮度 強光燈
2024-01-04
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337
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 芯片 液晶 高亮度 鹵素燈
2024-01-04
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 缺陷檢查 晶圓 鹵素光源
2024-01-04
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 宏觀(guān)觀(guān)察 晶圓 鹵素光源
2024-01-04
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光 小王子 晶圓 鹵素光源 裝置
2024-01-04
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可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 聚光燈鹵素 光源 強光燈
2024-01-04
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